報(bào)告題目：像差校正透射電子顯微鏡：它是如何運(yùn)作的？為什么需要它？
報(bào) 告 人：劉宗文教授
講座時(shí)間：6月23日（周五）9:30-11:00
講座地點(diǎn)：友誼校區(qū)材料學(xué)院公字樓328會(huì)議室
邀 請(qǐng) 人：陳海燕副教授
承辦學(xué)院：材料學(xué)院
聯(lián) 系 人：陳海燕
聯(lián)系電話(huà)：15809277433
報(bào)告簡(jiǎn)介：
In this lecturer, the basic principles on aberration collection will be first introduced, followed on by research examples achieved with modern aberration-corrected TEMs.
像差一直以來(lái)限制了透射電子顯微鏡的分辨率，直到半個(gè)世紀(jì)之前，像差校正才首次被提出，但是在近20年，像差校正才真正意義上得到了長(zhǎng)足發(fā)展。在本次報(bào)告上，將會(huì)結(jié)合利用最新的像差校正透射電子顯微鏡所取得的研究成果來(lái)介紹像差采集的主要原理。
報(bào)告人簡(jiǎn)介：
劉宗文，1999年在墨爾本大學(xué)獲得博士學(xué)位，現(xiàn)任澳大利亞悉尼大學(xué)化學(xué)與生物分子工程學(xué)院副教授，博士生導(dǎo)師，伊麗莎白女王二世獎(jiǎng)勵(lì)計(jì)劃學(xué)者，專(zhuān)業(yè)為電子顯微學(xué)。2001至2004年在日本材料研究所（NIMS）任高級(jí)研究員（Senior Researcher）。2004年起在悉尼大學(xué)任教。劉宗文教授的主要研究方向是顯微分析技術(shù)在納米材料、金屬和陶瓷領(lǐng)域的合成與應(yīng)用等，目前已經(jīng)在Prog. Polym. Sci, Adv. Mater, JACS, Angew. Chem. Int等國(guó)際期刊上發(fā)表論文150余篇，論文總引用次數(shù)超過(guò)1000次。劉宗文教授還同時(shí)兼任Journal of OAtube Nanotechnology、Journal of Functional Materials Letter 等期刊的編委。
